青智功率分析仪电抗器等被动原件低功率因数测量
时间:2026-07-10 19:45:04 来源:滕州市赛谱分析仪器有限公司
电抗类被动元件的青智损耗测量
新时代的电力半导体上,对被动元器件的功率功率损耗提出更高要求,要求即使在高速切换的分析时候也要能抑制损耗(发热)。

被动元件(电抗器)中的仪电因数发热例
功率分析仪的电抗器损耗测量示例


在测量高速开关时被动元器件的损耗时,其高频的抗器相位特性是测量的关键
为了满足上面的要求我们提供了以下的新技术
① 提升相位精度
针对特殊电相角对仪表进行校对。
② 相位补偿配套有内部存储器的等被动原电流传感器,将各传感器的测量相位补偿值记录在存储器中,根据各传感器个体的青智补偿值自动校正电流传感器的相位误差。通过功率分析仪8962A1和新电流传感器组的功率功率组合来实现。
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